技术成果

TEM 透射电镜载网支持膜用二维纳米晶石墨烯制备技术

技术成果 · 新材料 · 本项目提供一种应用于TEM测试中使用的新型载网支持膜—纳米晶石墨烯制备技术。纳米晶石墨薄膜具有原子级厚度(0.34nm),可为高分辨TEM成像提供保证;薄膜中晶畴尺度为2-5nm,取向随机,大大减弱了支持膜对测试样品的影响;纳米晶石墨烯表…

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