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高价值发明专利

一种基于有效超声背散射信号提取多晶材料晶粒平均尺寸的方法

武汉大学· 发布于 2026-10-10

成果概览

完成单位
武汉大学
所属领域
高价值发明专利
发布时间
2026-10-10

成果简介

武汉大学最具转化潜力十项专利之一（官网公布）