一种多次散射偏振特征提取与等效成像方法

专利概览

申请人

西安电子科技大学

发明人

刘飞; 罗熙媛; 董雪; 李嘉伟; 刘金鹏; 高宗楠; 相萌

专利号

CN202611015900.2

公开日

2026.08.07

IPC

G01J3/28;G01J3/447;G01J3/02;G01J3/12

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摘要

本发明公开了一种多次散射偏振特征提取与等效成像方法，包括：获取物方平面内多个预设入射位置的多个线偏振方向强度图像；计算各入射位置的斯托克斯矢量并归一化部分斯托克斯参数，再通过环形带通滤波器滤波，使滤波后的归一化参数的互能量随散射层数增加的变化率低于预设阈值；在局部窗口内计算滤波后参数的协方差，得到各入射位置的协方差图；由所有入射位置的协方差图构建大视场协方差图，并将其作为物理约束信息通过散射成像模型重建散射图像。本发明提取对散射次数不敏感的偏振协方差特征，突破了记忆效应视场限制，实现了大视场稳定成像，同时提供物理先验引导散射成像模型，显著提升复杂散射场景下的图像重建质量与鲁棒性。