技术专利盘活专利发明专利2010.08.04#公开;2010.09.22#实质审查的生效;2014.06.04#授权

一种利用多缝衍射法测量偏振态的装置及方法

北京理工大学· 北京· CN201010144119.8

专利概览

申请人: 北京理工大学
发明人: 白云峰;李艳秋;董娟;刘晓琳
申请号: CN201010144119.8
专利号: CN201010144119.8
法律状态: 2010.08.04#公开;2010.09.22#实质审查的生效;2014.06.04#授权
主分类号: G01J3/447
IPC: G01J3/447;G01J3/12;G01N21/21

摘要

本发明涉及一种利用多缝衍射法测量偏振态的装置及方法，属于光电技术检测技术领域。包括偏振片A、偏振片B、二元光栅、凸透镜和CCD探测器；将偏振片A覆盖二元光栅的一部分，然后沿光路方向依次固定偏振片A、二元光栅、凸透镜、偏振片B和CCD探测器；平行入射光照射在二元光栅上，平行入射光透过二元光栅在CCD探测器成像，形成衍射条纹。本发明易于实际应用，装置简单，能够高精度，对入射单色光无选择性的偏振态测量方法；本发明相对斯托克斯参量法只用到偏振片，且不需要旋转此偏振片，因此在实验上装置简单，且具有高的实验精度；整个实验装置中无波长选择装置，即任何单色光入射均可测量其偏振态；此装置不需校正即可使用。