技术专利盘活专利发明专利2011.01.12#公开;2011.03.09#实质审查的生效;2013.03.27#授权

X射线暗场成像系统和方法

清华大学;同方威视技术股份有限公司· 北京· CN200910088662.8

专利概览

申请人: 清华大学;同方威视技术股份有限公司
发明人: 黄志峰;陈志强;张丽;王振天;邢宇翔;赵自然;肖永顺
申请号: CN200910088662.8
专利号: CN200910088662.8
法律状态: 2011.01.12#公开;2011.03.09#实质审查的生效;2013.03.27#授权
主分类号: G01N23/04
IPC: G01N23/04;G01N23/083;A61B6/03;G03B42/02

摘要

一种X射线成像技术，利用包括：X射线源、两吸收光栅G1和G2、X射线探测器、控制器和数据处理单元的成像系统对被测物体进行X射线暗场CT成像，包括：向被测物体发射X射线；使得所述两块吸收光栅G1和G2之一在其至少一个周期范围内进行相位步进运动；在每个相位步进步骤，探测器接收X射线，并转化为电信号；其中，经过至少一个周期的相位步进，探测器上每个像素点处的X射线光强表示为一个光强曲线；根据探测器上每个像素点处的光强曲线与不存在被检测物体情况下的光强曲线的对比度，计算得到每个像素的散射角分布的二阶矩；在多个角度拍摄物体的图像，然后根据CT重建算法可以得物体的散射信息图像。